Le microscope électronique à balayage, mieux connu sous l’acronyme SEM (scanning electron microscope), est un type de microscope électronique conçu pour étudier directement les surfaces d’objets solides. Il utilise un faisceau d’électrons focalisé à relativement faible énergie comme sonde électronique, qui est balayé régulièrement au-dessus de l’échantillon. L’action du faisceau d’électrons stimule l’émission d’électrons diffusés à haute énergie et d’électrons secondaires à faible énergie à partir de la surface de l’échantillon. Le microscope électronique à balayage possède des capacités uniques d’analyse des surfaces et produit des images à haute résolution de celles-ci.
Principe du microscope électronique à balayage (MEB)
Le microscope électronique à balayage utilise les électrons émis et fonctionne sur le principe de l’application de l’énergie cinétique pour produire des signaux sur l’interaction des électrons. Ces électrons sont des électrons secondaires, rétrodiffusés et rétrodiffusés diffractés qui sont utilisés pour voir les éléments cristallisés et les photons. Pour mieux comprendre la contribution de chacun des électrons émis lors de l’étude d’un échantillon, déterminons que les électrons secondaires et rétrodiffusés sont utilisés pour produire une image et jouent à leur tour le rôle principal dans la détection de la morphologie et de la topographie de l’échantillon, tandis que les électrons rétrodiffusés montrent le contraste dans la composition des éléments de l’échantillon.
Grâce à l’étroitesse du faisceau d’électrons, les micrographiesSEM ont une grande profondeur de champ qui donne un aspect 3D, ce qui permet de comprendre parfaitement la structure de la surface de l’échantillon. Il s’agit d’un produit favorable pour les chercheurs et les responsables de laboratoires. D’ailleurs, ces derniers peuvent facilement en dénicher un modèle adapté auprès d’un spécialiste comme EMS, situé à 31 chemin des Acacias, 38240 Meylan. Qui plus est, le fournisseur met à votre disposition un service expert pour la maintenance de microscope électronique à balayage. Vous accédez ainsi à des offres sur mesure adaptées à vos exigences et à vos contraintes budgétaires.
Fonctionnement du microscope électronique à balayage (MEB)
Un faisceau d’électrons se déplace selon un schéma x-y à travers un échantillon conducteur, qui libère divers signaux de données contenant des informations sur la structure et la composition de l’échantillon. Comme les électrons sont utilisés comme source de rayonnement au lieu des photons de lumière, la résolution est améliorée. Simultanément, comme l’échantillon est irradié en mode séquence temporelle, on obtient une grande profondeur de champ et les images apparaissent en trois dimensions. Par ailleurs, une large plage de grossissement (10 à 30 000×) facilite la corrélation des images macro et microscopiques.
Le microscope électronique à balayage possède également des capacités analytiques. Parmi les signaux de données émis lors de l’examen, les rayons X caractérisent la composition élémentaire de l’échantillon. Lorsque les informations structurelles et radiographiques sont combinées, on obtient une description unique de l’échantillon. Des développements plus récents en microscopie électronique à balayage (MEB) incluent l’imagerie par ondes thermiques, qui est utilisée pour détecter les défauts sous la surface. Les appareils sont également disponibles pour les études de fractures in situ et sont utilisés pour l’étude cinématique de la déformation. Ces caractéristiques font du MEB un outil idéal pour l’étude des surfaces de rupture. Les différents modes de fracture présentent des caractéristiques uniques qui sont facilement documentées par le MEB.